【千葉】ウェハー欠陥検査、AOI外観検査および光学設計

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Job details

Company overview

Our client is a tech giant based in Asia that offers a diverse range of ICT solutions for both　general consumers and businesses worldwide. Their extensive product lines include telecommunication, enterprise networks, devices, and cloud technology.

Responsibilities

以下業務をお任せいたします。

装置組み込み測定システムの設計

装置測定光学システム（撮像システムを含む）の設計を担当

設備環境測定システムの設計を担当

Requirements

• レーザー干渉計、格子定規の開発と使用の経験（5年以上）、光干渉計のマスター、格子定規に精通している
• 一般的な光学設計CAD（ZEMAX,CODE V）を用いた計測光学系設計、リソグラフィプロセスの知識、AOI外観検査装置開発もしくは使用経験
• SEM、コリメータ、エリプソメータ、レーザー干渉計などの光学測定システムの原理機器に精通し、AOM、AODなどの光学デバイスの原理とアプリケーションを理解できる

歓迎条件：

• リソグラフィ、AOI外観検査等関連分野のご経験

Salary

9 - 15 million yen

Location

Chiba